企业简介
上海华园微电子技术有限公司 main business:集成电路产销 and other products. Company respected "practical, hard work, responsibility" spirit of enterprise, and to integrity, win-win, creating business ideas, to create a good business environment, with a new management model, perfect technology, attentive service, excellent quality of basic survival, we always adhere to customer first intentions to serve customers, persist in using their services to impress clients.
welcome new and old customers to visit our company guidance, my company specific address is: 上海市市辖区徐汇区宜山路900号A区6楼.
If you are interested in our products or have any questions, you can give us a message, or contact us directly, we will receive your information, will be the first time in a timely manner contact with you.
上海华园微电子技术有限公司的工商信息
- 3101041021686
- 吊销，未注销
- 其他有限责任公司
- 2000-07-28
- 郭梁
- 3000万人民币
- 2000-07-28 至 永久
- 徐汇区市场监督管理局
- 宜山路900号A区六楼
- 微电子、电子、通信、计算机专业领域的八技服务及新产品的开发、研制、试销，经营本企业自产微电子、电子、通信、计算机、芯片产品及技术的出口业务，经营本企业生产、科研所需原辅料、机械设备、仪器仪表、零配件及技术的进口业务（国家限定公司经营和国家禁止进出口的商品及技术除外），经营进料加工及“三来一补”业务。...
上海华园微电子技术有限公司的专利信息
| 序号 | 公布号 | 发明名称 | 公布日期 | 摘要 |
| 1 | CN2639986Y | 液晶显示驱动器的测试电路 | 2004.09.08 | 本实用新型涉及液晶显示驱动器的测试电路，本实用新型包括测试面板控制部分(1)，微处理机测试控制部分( |
| 2 | CN1862644A | LCOS中的图象数据存储电路 | 2006.11.15 | 本发明涉及一种LCOS中的图象数据存储电路，从DVI信号转换器来的图象数据及行、帧同步信号送入控制电 |
| 3 | CN1862322A | LCOS显示芯片的测试电路 | 2006.11.15 | 本发明涉及一种LCOS显示芯片的测试电路，被测LCOS显示芯片(4)；还包括PC机(5)通过RS23 |
| 4 | CN1862645A | LCOS中具有双向驱动行选择线的显示芯片 | 2006.11.15 | 本发明涉及一种LCOS中具有双向驱动行选择线的显示芯片，包括：一个显示芯片(SRAM)，一根行选择驱 |
| 5 | CN1790469A | LCOS中具有图象数据转换电路的显示电路 | 2006.06.21 | 本发明涉及一种LCOS中具有图象数据转换电路的显示电路，包括DVI转换器(1)，图象数据存储电路(3 |
| 6 | CN1779768A | LCOS中象素电压产生电路 | 2006.05.31 | 本发明涉及一种LCOS中象素电压产生电路，包括：SRAM存储器单元(1)；第一传输门(2)和第二传输 |
| 7 | CN1779478A | LCOS驱动芯片测试装置及其测试方法 | 2006.05.31 | 本发明涉及一种LCOS驱动芯片测试装置，包括：被测LCOS驱动芯片(1)，微控制器(2)，个人计算机 |
| 8 | CN1773628A | LCOS中的单边结构静态存储器 | 2006.05.17 | 本发明涉及LCOS中的单边结构静态存储器，第五CMOS管(T5)的漏极与D线相连，栅极与字线W相连， |
| 9 | CN1770248A | 基于大规模集成电路上的反射液晶投影中显示驱动电路 | 2006.05.10 | 本发明涉及一种基于大规模集成电路上的反射液晶投影(LCOS)中显示驱动电路，包括DVI连接器，DVI |
| 10 | CN1766975A | 集成电路上的反射液晶投影中产生液晶控制电压的电路 | 2006.05.03 | 本发明涉及一种大规模集成电路上的反射液晶投影(LCOS)中产生液晶控制电压的电路，包括：解码存储电路 |
| 11 | CN1581063A | CPU卡芯片的测试方法 | 2005.02.16 | 本发明涉及一种CPU卡芯片的测试方法，是通过以下步骤实现的：通过测试程序的编制过程中定义待测试芯片管 |
| 12 | CN2678013Y | 记忆卡中RTL级的实时硬件测试平台 | 2005.02.09 | 本实用新型涉及记忆卡中RTL级的实时硬件测试平台，本实用新型的测试平台包括通用的记忆卡(1)，设计的 |
| 13 | CN2678026Y | 智能卡的存储器结构 | 2005.02.09 | 本实用新型涉及一种智能卡的存储器结构，本实用新型的结构包括存储器管理单元(1)，线性物理地址空间(2 |
| 14 | CN1567367A | 智能卡的存储器结构及其控制方法 | 2005.01.19 | 本发明涉及一种智能卡的存储器结构及其控制方法，本发明的结构包括存储器管理单元(1)，线性物理地址空间 |
| 15 | CN1567722A | 低电压低功耗高速的1位CMOS全加器电路 | 2005.01.19 | 本发明涉及一种低电压低功耗高速的1位CMOS全加器电路，包括异或电路(1)，同或电路(2)，求和电路 |
| 16 | CN1567209A | 微处理器的随机测试方法 | 2005.01.19 | 本发明涉及一种微处理器的随机测试方法，是通过以下步骤实现的：基于随机数产生N条随机指令(1)；所述的 |
| 17 | CN1566968A | 预校准电能测量芯片 | 2005.01.19 | 本发明涉及一种预校准电能测量芯片，包括第一可调制放大器(1)，第二可调制放大器(2)，第一模数转换器 |
| 18 | CN1567556A | 记忆卡中RTL级的实时硬件测试平台及其测试方法 | 2005.01.19 | 本发明涉及记忆卡中RTL级的实时硬件测试平台及其测试方法，本发明的测试平台包括通用的记忆卡(1)，设 |
| 19 | CN1567219A | 非接触式集成电路卡测试电路及其测试方法 | 2005.01.19 | 本发明涉及一种非接触式集成电路卡测试电路及其测试方法，PC机(5)将被测试的逻辑电路经过编程输入到F |
| 20 | CN1553264A | 在LCOS中数据存储和数据控制显示的装置 | 2004.12.08 | 本发明涉及一种在LCOS中数据存储和数据控制显示的装置，包括由第一反向器和第二反向器并联组成的第一级 |
| 21 | CN1553327A | 测试EEPROM的电路及其测试方法 | 2004.12.08 | 本发明涉及一种测试EEPROM的电路及其测试方法，本发明的电路包括EEPROM(1)，微控制器(2) |
| 22 | CN1553202A | 液晶显示驱动器的测试电路及其测试方法 | 2004.12.08 | 本发明涉及液晶显示驱动器的测试电路及其测试方法，本发明的电路包括测试面板控制部分(1)，微处理机测试 |
| 23 | CN1553326A | 测试只读存储器的电路及其测试方法 | 2004.12.08 | 本发明涉及一种测试只读存储器的电路及其测试方法，通过只读存储器控制信号端(2)，读只读存储器信号的控 |
| 24 | CN1549105A | 一种在智能卡中用串行硬件实现AES算法的方法 | 2004.11.24 | 本发明涉及一种在智能卡中用串行硬件实现AES算法的方法，其特征在于：设置了控制寄存器、状态寄存器、数 |
| 25 | CN1540582A | 在集成电路卡中随机数发生器和产生随机初值的方法 | 2004.10.27 | 本发明涉及一种在集成电路卡中随机数发生器以及产生随机数的方法。其随机数发生器包括带反馈的串行移位寄存 |
| 26 | CN1540525A | 在集成电路卡中的安全保护装置 | 2004.10.27 | 本发明涉及一种在集成电路卡中的安全保护装置，包括主电路(13)，主电路中的CPU(131)，测试模式 |
| 27 | CN1540733A | 测试集成电路卡中芯片操作系统和芯片兼容的装置 | 2004.10.27 | 本发明涉及一种测试集成电路卡中芯片操作系统和芯片兼容的装置，包括印制电路板(1)，卡触点(11)，验 |
| 28 | CN1536486A | 可自测试的带微处理器的智能卡芯片 | 2004.10.13 | 一种可自测试的带微处理器的智能卡芯片，其包括主电路，及与该主电路双向连接的可对主电路进行全面测试的自 |
| 29 | CN1532658A | 能隙基准电压参考电路及产生基准电压的方法 | 2004.09.29 | 本发明提供一种用于产生一个基准电压的能隙基准电压参考电路，其包括：设有恒流源的预调节器(11)，耦合 |
| 30 | CN2641756Y | 在LCOS中数据存储和数据控制显示的装置 | 2004.09.15 | 本实用新型涉及一种在LCOS中数据存储和数据控制显示的装置，包括由第一反向器和第二反向器并联组成的第 |
| 31 | CN2640037Y | 集成电路转接板 | 2004.09.08 | 本实用新型涉及一种集成电路转接板，包括印刷电路板(1)，所述的印刷电路板(1)包括集成电路(11)， |
| 32 | CN1525307A | 一种模乘运算电路和一种运用该模乘运算电路的加密方法 | 2004.09.01 | 一种模乘运算电路和一种运用该模乘运算电路的加密方法，该模乘运算电路包括512个基本运算电路，排成32 |
| 33 | CN1523731A | 一种非接触卡中的供电装置 | 2004.08.25 | 一种非接触卡中的供电装置，包括在应答器线圈上并联电容所构成的并联振荡回路(1)，桥式整流器(2)，储 |
| 34 | CN1523367A | 一种测试电可擦除电可编程存储器的性能及其故障的方法 | 2004.08.25 | 一种测试电可擦除电可编程存储器的性能及其故障的方法，包括以下步骤：在电压条件下，(1)采用全擦全写F |
| 35 | CN1521691A | 一种IC存储卡 | 2004.08.18 | 一种IC存储卡，其主存储单元及编程单元均采用闪速存储单元，两个静态随机存储单元，串行输入输出接口，指 |
| 36 | CN2625966Y | 非接触式集成电路卡测试电路 | 2004.07.14 | 本实用新型涉及一种非接触式集成电路卡测试电路，PC机(5)将被测试的逻辑电路经过编程输入到FPGA部 |
| 37 | CN2626013Y | 测试EEPROM的电路 | 2004.07.14 | 本实用新型涉及一种测试EEPROM的电路，本实用新型包括EEPROM(1)，微控制器(2)，显示驱动 |
| 38 | CN2620945Y | 低电压低功耗高速的1位CMOS全加器电路 | 2004.06.16 | 本实用新型涉及一种低电压低功耗高速的1位CMOS全加器电路，包括异或电路(1)，同或电路(2)，求和 |
| 39 | CN2618349Y | 一种非接触卡中的供电装置 | 2004.05.26 | 本实用新型设计了一种非接触卡中的供电装置，包括在应答器线圈上并联电容所构成的并联振荡回路(1)，桥式 |
| 40 | CN2615770Y | 测试只读存储器的电路 | 2004.05.12 | 本实用新型涉及一种测试只读存储器的电路，通过只读存储器控制信号端(2)，读只读存储器信号的控制电路( |
| 41 | CN2613828Y | 在集成电路卡中的安全保护装置 | 2004.04.28 | 本实用新型涉及一种在集成电路卡中的安全保护装置，包括主电路(13)，主电路中的CPU(131)，测试 |
| 42 | CN2611990Y | IC卡模块测试夹具 | 2004.04.14 | 本实用新型公开了一种IC卡模块测试夹具，包括两块印刷电路板(3、4)，探针(2)、探针底座(1)和分 |
| 43 | CN2611913Y | 测试集成电路卡中芯片操作系统和芯片兼容的装置 | 2004.04.14 | 本实用新型涉及一种测试集成电路卡中芯片操作系统和芯片兼容的装置，包括印制电路板(1)，卡触点(11) |
| 44 | CN2611989Y | 可自测试的带微处理器的智能卡芯片 | 2004.04.14 | 一种可自测试的带微处理器的智能卡芯片，其包括主电路，及与该主电路双向连接的可对主电路进行全面测试的自 |
| 45 | CN2609075Y | 在集成电路卡中随机数发生器 | 2004.03.31 | 本实用新型涉及一种在集成电路卡中随机数发生器。本实用新型包括带反馈的串行移位寄存器(1)，随机存储器 |
| 46 | CN2609030Y | 能隙基准电压参考电路 | 2004.03.31 | 本实用新型提供一种用于产生一个基准电压的能隙基准电压参考电路，其包括：设有恒流源的预调节器(11)， |
| 47 | CN2606387Y | 一种在智能卡中的时钟频率判定电路 | 2004.03.10 | 本实用新型一种在智能卡中的时钟频率判定电路，主要由两个计数器和两个比较电路组成。一个计数器为标准计数 |
| 48 | CN2601433Y | 一种IC存储卡 | 2004.01.28 | 一种IC存储卡，其主存储单元及编程单元均采用闪速存储单元，两个静态随机存储单元，串行输入输出接口，指 |
| 49 | CN1447205A | 一种在智能卡中的时钟频率判定电路 | 2003.10.08 | 本发明涉及一种在智能卡中的时钟频率判定电路，主要由两个计数器和两个比较电路组成。一个计数器为标准计数 |
新闻中心
该公司还没有发布任何新闻
行业动态
该公司还没有发表行业动态
企业资质
该公司还没有上传企业资质
Map(The red dot in the figure below is 上海华园微电子技术有限公司 at the specific location, the map can drag, double zoom)
Tips: This site is 上海华园微电子技术有限公司 at mass public network free website, if you are the person in charge of the unit, please click here application personalized two after landing and update your business domain data, you can delete all of your unit page ads, all operations free of charge.
